马赫曾德干涉实验系统-光品汇商城

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马赫曾德干涉实验系统

光品汇商城提供马赫曾德干涉仪简称M-Z干涉仪。自1856年雅曼干涉仪问世以来，就被当时的一些学者用来研究大气动力学的一些现象。当时人们就认识到，要想更好地应用这种测试方法，就必须把参考光束与物光束在空间分开更大的距离。直到 1881年曾德和1882年马赫各自独立地实现了这种想法，这就是在科学研究中广泛使用的M-Z干涉仪。M-Z干涉仪是一种用分振幅法产生干涉的光学仪器，适用于研究气体密度迅速变化的状态，如测量在风洞中实验时产生的空气涡流和爆炸过程中的冲击波，也适用于传感领域，如制作温度传感器、压电传感器和电流传感器，对温度场和应力场进行监控等。

了解马赫-曾德干涉仪的基本原理
学会调节马赫-曾德干涉仪
通过M-Z干涉仪进行镜片形貌的测量
掌握两相干光的光强对干涉条纹对比度的影响
通过M-Z干涉仪对气室的折射率变化进行测量

马赫曾德干涉实验系统

光品汇商城提供的马赫-曾德干涉实验系统的基本元件是两块平面全反射镜M1和M2，两块平面半透半反的分光镜BS1和BS2。这四块镜子成矩形布局。激光束经扩束镜和准直镜，变成平行激光束入射到分光镜BS1上，被分成两束相互垂直的光束。一束先经BS1反射到反射镜M2上，再经反射镜M2反射并透过分光镜BS2而投射到屏幕上，称为反射光Ⅰ。另一束光经BS1的透射，M1的反射，BS2的反射也投射到屏幕上，称为透射光Ⅱ。由于反射光Ⅰ和透射光Ⅱ为两相干光束，因此，可在干涉面上观察到干涉条纹。在干涉系统的一束光路中加入小气室，缓慢的给气室加压，记录干涉条纹变化量和气压变化量，用于气室折射率计算。

本系统可兼容多个测试场景，包括折射率，镜片形貌等
采用多维度微调机构，提高系统调节效率

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